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植物冠層測(cè)量?jī)x器有哪些？

更新時(shí)間：2024-11-08 點(diǎn)擊次數(shù)：254

植物冠層測(cè)量?jī)x器有哪些？

產(chǎn)品名稱	產(chǎn)品型號(hào)	產(chǎn)品圖片	主要用途	工作原理
植物冠層測(cè)量?jī)x	TOP-1000		植物冠層測(cè)量?jī)x可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測(cè)量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系	本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測(cè)量、記錄,測(cè)量值的單位是平方米?秒上的微摩爾（μmols-1m-2）。
高冠植物冠層測(cè)量?jī)x	TOP-1200		高冠植物冠層測(cè)量?jī)x主要用于檢測(cè)葉面積指數(shù)，葉面積指數(shù)是一塊地上陽(yáng)光直射時(shí)，作物葉片垂直投影的總面積與占地面積的比值。即：葉面積指數(shù)=投影總面積/占地面積。葉面積指數(shù)是反映作物群體大小的較好的動(dòng)態(tài)指標(biāo)。可用于研究氮對(duì)提高葉面積指數(shù)、光合勢(shì)、葉綠素含量和生長(zhǎng)率均有促進(jìn)作用,隨施氮增加葉面積指數(shù)提高的正效應(yīng)可以抵消凈同化率下降的負(fù)效應(yīng),從而最終獲得一個(gè)較高的生長(zhǎng)率。	采用可見(jiàn)/近紅外光反射光譜技術(shù)和多通道光譜信息掃描技術(shù)，可快速測(cè)定高冠植物面參數(shù)、高冠植物信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。軟件分析功能多：可分析植被指數(shù)RVI、NDVI、作物葉層含氮量、氮積累量、葉面積指數(shù)、葉干重等。
植物冠層圖像分析儀	TOP-1300		植物冠層圖像分析儀是測(cè)量作物田間長(zhǎng)勢(shì)診斷的有力工具，主要用于作物葉片及冠層光譜的測(cè)量，可現(xiàn)場(chǎng)診斷作物的營(yíng)養(yǎng)狀況，可測(cè)量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測(cè)量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。	植物冠層圖像分析儀利用體積小巧探頭，裝在測(cè)杠上可任意角度獲取植物冠層結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。在通過(guò)軟件分析數(shù)據(jù)。